HOME > 제품소개 > 반도체·LCD 연구장비
반도체·LCD 연구장비
박막두께측정기 (MProbe 40 Thin Film Measurement System)

** 박막 두께 측정기 (MProbe 40 Thin Film Measurement System) **


            MProbe 40-UVVisNIR- MSP

 





두께율: 1 nm - 1.8 mm

파장율: 200nm -1700nm

스폿 사이즈: 200m to 2 m

 

 

얇은-필름 태양광 전지: aSi, TCO, CIGS, CdS,

CdTe, 페로브스카이트 - 전체 태양 스택 측정.

LCD, FPD 어플리케이션: ITO, Cell Gaps, 폴리아미드.

광학 코팅: 유전체 필터, 견고한 코팅, 산화 방지제코팅.

반도체 및 유전체: 산화물,질화물, OLED 스택.

생물 의학 : 스텐트, 정형 외과 임플란트 코팅.

 

장가능한 소재 라이브러리(500+소재) -
     신소재 쉽게 추가.
     파라미터가 있는 지원: 코시, 타크-로렌츠, 코디-로렌츠, EMA 및 그 외 다양함.

 

유연성: 외부 소프트웨어으로 간편한 통합.

 

측정 파라미터: 두께, 일정한 광학, 거친 표면.

무한정한 레이어 수.

 

사용간편 및 강력한 분석 툴 -
      R&D
을 위한 사용 준비 및 생산 어플리케이션
      한번의 클릭으로 측정 및 분석.


시뮬레이션 및 민감도
, 배경 및 스케일링 수정, 링크된 레이어 및 소재,
다양한 샘플 측정, 동적측정 및 생산 일괄처리

 

 

 

 

 

 

 


 

목록